Detector được sử dụng trong công tr

Detector được sử dụng trong công trình này là NaI(Tl) scintillation detector với đường kính tinh thể 76*76mm, bề dày của cửa sổ nhôm là 1.5mm, bề dày của Silicon là 2mm được sản suất bởi hãng Amptek Ltd. Co. USA. Phần mềm ghi nhận và phân tích phổ được sử dụng là phần mềm Genie 2k.
Nguồn được sử dụng ở đây là bộ nguồn điểm được sản suất bởi hãng Eckert & Ziegler hoạt độ 1μCi. Sai số của hoạt độ nguồn dưới 3%. Nguồn được đặt ở vị trí 25cm cách bề mặt đầu dò. Các nguồn được ghi nhận sao cho thời gian sao cho diện tích đỉnh ở mỗi năng lượng là dưới 3%.
2.2. Phương pháp nghiên cứu
Phương pháp truyền qua (transmission method) được đưa ra bởi N. H Cutshall và các cộng sự (1983) dựa trên nguyên lý của sự suy giảm tia gamma khi chuyền qua vật chất, tùy thuộc vào mỗi detector. Khi tia gamma đi vào bên trong vật chất xảy ra các quá trình tương tác như: quang điện, tán xạ compton, sự tạo cặp, nên khi chuyền qua một lớp vật chất, cường độ của chùm gamma bị suy giảm. Thực nghiệm cho thấy rằng độ suy giảm cường độ của chùm gamma phụ thuộc vào bề dày và vật liệu, được trình bày theo công thức 1

Kết quả (Anh) 1:

Detector used in this work is the NaI (Tl) scintillation detector with Crystal diameter 76 * 76 mm, the thickness of the aluminum window is 1.5 mm, the thickness of Silicon is 2 mm are manufactured by Amptek Ltd. co. USA. The software records and analyzes the spectrum used is the Genie software 2 k. The source used here is the point source is manufactured by Eckert & Ziegler 1μCi activity. Wrong number of source activity under 3%. The source is placed in the position of 25 cm how surface probes. The sources noted that the time for peak energy in each area is under 3%.2.2. Research methodThe method of transmission (transmission method) is given by N. H Cutshall and Associates (1983) based on the principle of gamma ray attenuation when a line through the material, depending on each detector. When gamma rays go on the inside of the material occurs the interactive process as: photovoltaics, compton scattering, the created folder, so when the physical layer via a chain, gamma beam's intensity decreased. The experiment shows that the attenuation of gamma beam intensity depends on the thickness and material, are presented according to the formula 1

Kết quả (Anh) 2:

Detector used in this work is naI (Tl) scintillation crystal detector with a diameter of 76 * 76mm, thickness of 1.5mm aluminum windows, thickness of 2mm Silicon is produced by genuine interest Amptek Ltd. Neck. USA. Recognition software and spectral analysis software used Genie 2k.
Sources used here is the point source produced by the company Eckert & Ziegler interest activity 1μCi. Sources of error of less than 3% of the activity. Sources are placed 25cm from the surface probe. The source noted that time so that in every area of energy peaks is less than 3%.
2.2. Research methodology
Methodology transmittance (transmission method) is given by H Cutshall N. et al (1983) based on the principle of attenuation of gamma rays pass through matter when, depending on each detector. When gamma rays go inside material occurs interactive processes such as photoelectric, Compton scattering, pair creation, so when passing a physical layer, the intensity of the beam of gamma impaired. Experiment shows that the decline in the intensity of gamma beam depending on the thickness and material, is presented by the formula 1