Trong quá trình test chip liên tục

Trong quá trình test chip liên tục yêu cầu các phiên bản khác nhau của measure block. Mỗi phiên bản sẽ yêu cầu độ rộng của thanh do khác nhau. Trong trường hợp xấu nhất giá trị cần đo vượt qua thang đo thì khối đo lường cần có khả năng thay đổi nhưng vẫn giữ được độ chính xác 10ps.\
Chúng tôi lựa chọn giải pháp sử dụng các buffer điều khiển delay bằng điện áp VC(Voltage control delay element). Điều khiển VC sẽ thay đổi khả năng kéo xuống của inverter.\

Kết quả (Anh) 1:

During the test the chip continuously require different versions of the measure block. Each version will require that the width of the bar due to the different. In the worst case the measured value scale, then pass the measure blocks need the ability to change but still retain the precision 10ps. We chose to use the buffer control delay using the voltage VC (Voltage control delay element). VC control will change the ability to pull down of inverter.

Kết quả (Anh) 2:

In the process of continuous chip test requirements of different versions of the measure blocks. Each version will require the width of different reasons. In the worst case values to be measured pass the cubic measurement scales need to be able to change while maintaining 10ps accuracy. \
We chose to use the buffer delay with voltage control VC (Voltage control delay element). VC controller will change the ability to drag down the inverter. \